与产线同速的硅片检测

iLS-W3

用于原硅片质量控制与分拣的光致发光设备

  • 非接触式检测及分选
  • 容易集成
  • 高产出
  • 独家算法
  • 最新设备的视野范围已升级
样品类型功能
原硅片光致发光成像(PL)
单晶原硅片详细分析
下面展示了不同原硅片的PL成像示例。请点击“联系我们”按钮申请全功能演示或进行查询。